部件高溫老化加速試驗箱 部件高溫老化加速試驗箱 

專業(yè)用于電路板，元器件，PCB等產(chǎn)品的高低溫測試設(shè)備——高低溫試驗箱，專業(yè)性強，是電子行業(yè)測試設(shè)備。
電路板高低溫測試箱，就選勤卓環(huán)測科技。我司先后為電路板，PCB，電子產(chǎn)品等企業(yè)，提供過專業(yè)的高低溫試驗箱和試驗方案。
一、半導體高低溫測試箱特點：高低溫試驗箱采用*觸摸屏式人機介面溫度控制器，*全封閉式壓縮機，整機性能穩(wěn)定，操作簡便，易于安裝，控制技術(shù)達到目前水平、性價比明顯優(yōu)于同類進口設(shè)備，是進行高低溫交變的理想設(shè)備。

二、半導體高低溫測試箱用途：高低溫試驗箱又名環(huán)境試驗箱，試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干性能。適合電子、電器、食品、車輛、金屬、化學、建材等工廠之用。高低溫交變試驗箱采用*人機介面溫度控制器，性能可靠，操作簡便，控制技術(shù)達到目前水平、性價比明顯優(yōu)于同類進口設(shè)備，是進行交變濕熱試驗的理想設(shè)備。

三、電路板高低溫測試箱規(guī)格（單位:mm）：（可按客戶要求定做更大尺寸）
型號 CK-80G  內(nèi)形尺寸:W×H×D 450×500×400   外形尺寸：650×1500×950
型號 CK-150G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500   外形尺寸：750×1600×1050
型號 CK-225G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600   外形尺寸：1000×1650×1200
型號 CK-408G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800   外形尺寸：1100×1750×1400
型號 CK-800G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1500×1900×1400
型號 CK-1000G內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1500×1900×1600

四、半導體高低溫測試箱技術(shù)指標：
1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、溫度均勻度：≤&plsmn;2℃ (空載時)
3、溫度波動度：&plsmn;0.5℃ (空載時)
4、溫度偏差:≤&plsmn;2℃
5、降溫速率：0.7～1.2℃/min
6、升溫速度：1.0～3.0℃/min

五、半導體高低溫測試箱結(jié)構(gòu)簡介：
1、外膽均采用S304鋼板數(shù)控機床加工成型，外殼表面進行噴塑處理，更顯光潔、美觀。
2、內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼(SS304)鏡面板。
3、保溫材質(zhì):高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為100mm
4、溫濕度循環(huán)系統(tǒng):采用特制空調(diào)型低噪音長軸風扇電機，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達強度對流 垂直擴散循環(huán)。
5、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉

六、半導體高低溫測試箱制冷系統(tǒng)控制
1、壓縮機：全封閉法國泰康1.5HP×2×1組
2、制冷方式：復疊式制冷
3、 冷凝方式：強制風冷冷卻
4、制冷劑：R404A、R23(環(huán)保型)
5、系統(tǒng)管路均作通氣加壓48H撿漏測試.
6、加溫、降溫系統(tǒng)*獨立 
7、內(nèi)螺旋式冷媒銅管

七、高低溫箱執(zhí)行標準
GB10592－93 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB2423.1－2001試驗A 低溫試驗方法
GB2423.2－2001試驗B 高溫試驗方法

八.  高低溫試驗箱廠家高低溫試驗箱產(chǎn)品售后服務(wù)與保固
8-1.  保證書保固2年.
8-2  新機出廠溫度九點分布校驗.
8-3  維修備份零組件八年以上庫存.
九. 新機達交貴廠隨附資料
9-1.  操作說明書、維護手冊.
9-2.  保證書、保養(yǎng)記錄卡.
9-3.  人員操作使用訓練.